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澤攸科技TEM-STM樣品桿系列是一種基于掃描探針技術(shù)的創(chuàng)新性原位透射電鏡（TEM）測量工具，為納米科學研究提供了全新的視角和手段。該系列產(chǎn)品將掃描探針控制單元巧妙集成于標準外形的透射電鏡樣品桿中，能夠在透射電鏡腔體內(nèi)實現(xiàn)對單個納米結(jié)構(gòu)的精確操縱與電學測量。通過這一系統(tǒng)，研究人員不僅可以實時動態(tài)地觀察樣品的晶體結(jié)構(gòu)、化學組分和元素價態(tài)的變化，還可以在多種外場環(huán)境下進行多維度的原位表征。

PicoFemto系列透射電鏡三維重構(gòu)樣品桿，基于樣品端超薄設(shè)計，滿足大傾角傾轉(zhuǎn)和360度旋轉(zhuǎn)測試需求。

PicoFemto系列透射電鏡多樣品桿，可一次裝載3個標準TEM樣品，提高測試效率，減少頻繁插拔樣品桿對測角臺的磨損。

PicoFemto系列透射電鏡原位光學樣品桿，基于TEM-STM樣品桿技術(shù)，樣品桿內(nèi)集成光纖，桿末端可外接光源或光譜儀，實現(xiàn)透射電鏡內(nèi)的光電測量或光譜學表征研究。

澤攸科技原位MEMS氣體/液體樣品桿系列是一種基于MEMS芯片技術(shù)的創(chuàng)新型透射電鏡（TEM）樣品桿，專為在氣體或液體環(huán)境中進行原位測量而設(shè)計。該系列產(chǎn)品通過在標準外形的透射電鏡樣品桿中加裝上下兩片氣體/液體芯片，形成一個微反應腔，配合氣體/液體控制系統(tǒng)以及選配的加熱或電學控制模塊，能夠?qū)崿F(xiàn)對單個納米結(jié)構(gòu)在復雜環(huán)境中的實時動態(tài)觀測與測量。研究人員可以在透射電鏡中模擬高溫氣氛、液體化學反應等。