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澤攸科技TEM-STM樣品桿系列是一種基于掃描探針技術(shù)的創(chuàng)新性原位透射電鏡（TEM）測量工具，為納米科學(xué)研究提供了全新的視角和手段。該系列產(chǎn)品將掃描探針控制單元巧妙集成于標(biāo)準(zhǔn)外形的透射電鏡樣品桿中，能夠在透射電鏡腔體內(nèi)實(shí)現(xiàn)對單個(gè)納米結(jié)構(gòu)的精確操縱與電學(xué)測量。通過這一系統(tǒng)，研究人員不僅可以實(shí)時(shí)動態(tài)地觀察樣品的晶體結(jié)構(gòu)、化學(xué)組分和元素價(jià)態(tài)的變化，還可以在多種外場環(huán)境下進(jìn)行多維度的原位表征。
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