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【產(chǎn)品概述】PicoFemto NI-100掃描電鏡納米力學(xué)樣品臺(tái)是澤攸科技推出的一款專注于材料變形行為和微觀失效機(jī)制研究的科研設(shè)備。該系統(tǒng)作為一款集成化的解決方案，能夠精確量化微納米級(jí)材料的力學(xué)特性，并通過與掃描電鏡(SEM)結(jié)合使用，實(shí)現(xiàn)對(duì)材料在不同應(yīng)力狀態(tài)下的原位觀測(cè)。這使得研究人員能夠在納米尺度上觀察到材料內(nèi)部結(jié)構(gòu)的變化，為深入理解材料的本質(zhì)提供了有力支持。
產(chǎn)品型號(hào)：NI-100 更新時(shí)間：2025-05-08訪 問 量：452廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家產(chǎn)品詳情
SEM納米力測(cè)量系統(tǒng)
產(chǎn)品介紹
產(chǎn)品特色
▲ 易用性強(qiáng)
▲ 兼容擴(kuò)展性強(qiáng)
▲ 加熱，光學(xué)等多種模塊可選
▲ 閉環(huán)高精度、大量程力學(xué)測(cè)量
▲ 閉環(huán)納米尺度微動(dòng)臺(tái)控制，位移更加精確
▲ 壓痕、劃痕、壓縮等多種模式可選
▲ 超高穩(wěn)定性，輕松獲得高質(zhì)量原位視頻
技術(shù)參數(shù)
功能：壓痕，壓縮，拉伸
載荷量程：100mN
力傳感分辨率：10uN
響應(yīng)時(shí)間：50ms
微調(diào)臺(tái)X/Y；模式：閉環(huán)控制 行程：100(±20)um 精度：20nm
粗調(diào)臺(tái)X/Y/Z；模式：開環(huán)控制 行程：XY軸±10mm、Z軸行程10mm 最小步長(zhǎng)：≤1nm
標(biāo)準(zhǔn)納米力臺(tái)尺寸：130*65*55mm
裸臺(tái)重量：約300g(壓痕)
樣品尺寸：≤30*30mm
選配模塊：加熱(最高400℃)、加電
應(yīng)用案例
納米力臺(tái)微球壓碎過程
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