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PicoFemto系列掃描電子顯微鏡納米力學臺是動態(tài)觀察和分析納米材料力學行為的重要工具。

澤攸科技位移臺作為國產精密儀器的代表，依托壓電陶瓷驅動技術實現(xiàn)了亞納米級運動精度與宏觀行程的突破性結合，解決了傳統(tǒng)設備在分辨率和行程范圍上的技術瓶頸。其核心設計采用高剛性柔性鉸鏈導向系統(tǒng)，兼具結構緊湊、真空兼容、寬溫區(qū)穩(wěn)定運行等特性，可在低溫至室溫環(huán)境中保持優(yōu)異性能。該產品系列通過模塊化設計支持定制化需求，廣泛應用于半導體檢測、生物顯微操作、光刻機工件臺定位等領域。

澤攸科技位移臺作為國產精密儀器的代表，依托壓電陶瓷驅動技術實現(xiàn)了亞納米級運動精度與宏觀行程的突破性結合，解決了傳統(tǒng)設備在分辨率和行程范圍上的技術瓶頸。其核心設計采用高剛性柔性鉸鏈導向系統(tǒng)，兼具結構緊湊、真空兼容、寬溫區(qū)穩(wěn)定運行等特性，可在低溫至室溫環(huán)境中保持優(yōu)異性能。該產品系列通過模塊化設計支持定制化需求，廣泛應用于半導體檢測、生物顯微操作、光刻機工件臺定位等領域。

澤攸科技位移臺作為國產精密儀器的代表，依托壓電陶瓷驅動技術實現(xiàn)了亞納米級運動精度與宏觀行程的突破性結合，解決了傳統(tǒng)設備在分辨率和行程范圍上的技術瓶頸。其核心設計采用高剛性柔性鉸鏈導向系統(tǒng)，兼具結構緊湊、真空兼容、寬溫區(qū)穩(wěn)定運行等特性，可在低溫至室溫環(huán)境中保持優(yōu)異性能。該產品系列通過模塊化設計支持定制化需求，廣泛應用于半導體檢測、生物顯微操作、光刻機工件臺定位等領域。

PicoFemto NI-100掃描電鏡納米力學樣品臺是澤攸科技推出的一款專注于材料變形行為和微觀失效機制研究的科研設備。該系統(tǒng)作為一款集成化的解決方案，能夠精確量化微納米級材料的力學特性，并通過與掃描電鏡(SEM)結合使用，實現(xiàn)對材料在不同應力狀態(tài)下的原位觀測。這使得研究人員能夠在納米尺度上觀察到材料內部結構的變化，為深入理解材料的本質提供了有力支持。